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El futuro de la tecnología ultra rápida está aquí: el avanzado chip que nos lleva años luz adelante

Una investigación liderada por la Universidad Monash, RMIT y la Universidad de Adelaide ha desarrollado un método preciso para controlar los circuitos ópticos en circuitos integrados fotónicos del tamaño de una uña del dedo. Esta investigación, publicada en la revista Optica, se basa en el trabajo del mismo equipo que recientemente creó el primer circuito fotónico auto-calibrado del mundo.

La fotonica, es decir, el uso de partículas de luz para almacenar y transmitir información, es un campo en pleno auge que apoya nuestra necesidad de crear tecnología más rápida, mejor, más eficiente y sostenible. Los circuitos integrados fotónicos programables (PICs) ofrecen diversas funciones de procesamiento de señal dentro de un solo chip y presentan soluciones prometedoras para aplicaciones que van desde las comunicaciones ópticas hasta la inteligencia artificial.

Ya sea para descargar películas o mantener un satélite en su curso, la fotonica está cambiando radicalmente la forma en que vivimos, revolucionando la capacidad de procesamiento de equipos de gran escala en un chip del tamaño de una uña humana.

A principios de este año, los investigadores de la Universidad Monash, RMIT y la Universidad de Adelaide desarrollaron un circuito fotónico avanzado que podría transformar la velocidad y la escala de la tecnología fotónica. Sin embargo, a medida que la escala y la complejidad de los PICs aumenta, la caracterización y, por lo tanto, la calibración, de ellos se vuelve cada vez más desafiante.

“Hemos añadido un camino de referencia común al chip, que permite mediciones estables y precisas de los largos (fases, retrasos de tiempo) y pérdidas de los caminos ‘trabajadores'”

Investigador de la Universidad Monash, el profesor Mike Xu.

Anteriormente, los chips se han medido/calibrado conectándolos a equipos externos complejos y costosos (llamados analizadores de red vectorial); sin embargo, las conexiones a ellos introducen errores de fase causados por vibraciones y cambios de temperatura. Al colocar la referencia en el chip real, la medición es inmune a estos errores de fase.

“Al inventar un nuevo método, el método de retraso fraccional, hemos podido separar la información deseada de la no deseada, lo que permite aplicaciones más precisas”.

Creditos: Monash University

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